村田教你測(cè)試薄膜型高頻電感器電氣特性方法
1. 規(guī)格書(shū)中指定的測(cè)量?jī)x器、測(cè)試夾具請(qǐng)確認(rèn)使用的測(cè)量?jī)x器和測(cè)試夾具是否合適。
2. 校正・補(bǔ)正方法為了進(jìn)行正確的測(cè)量，有必要正確地進(jìn)行測(cè)量?jī)x器的校正以及測(cè)試夾具的補(bǔ)正。按照以下順序進(jìn)行。
2-1 Open/Short/Load校正。為了在7mm連接器的端面處校正，將校正工具16195B的校正套件（open/short/load）安裝到測(cè)試頭上，進(jìn)行校正。
2-2 電氣長(zhǎng)度補(bǔ)正。在測(cè)試頭上安裝上指定的測(cè)試夾具后，輸入下表所示的電氣長(zhǎng)度補(bǔ)正值，進(jìn)行測(cè)試夾具的電氣長(zhǎng)度補(bǔ)正。此外，結(jié)合測(cè)量電感值，輸入測(cè)量頻率。
2-3 Open/short補(bǔ)正。為了測(cè)量面的電極間的補(bǔ)正，進(jìn)行OPEN/SHORT補(bǔ)正。進(jìn)行SHORT補(bǔ)正前，請(qǐng)務(wù)必輸入指定的殘留電感值。（表B）。
3. 樣品測(cè)量時(shí)的注意事項(xiàng)
1. LQP03TN/LQP03TG/LQP02TNseries中有方向識(shí)別標(biāo)注
2. 使用16197A時(shí)，過(guò)于用力按壓芯片，有可能使芯片受損。
編輯：admin 最后修改時(shí)間：2018-01-10
