高壓陶瓷電容器的絕緣電阻
高壓陶瓷電容器就是用陶瓷作為電介質(zhì)，在陶瓷基體兩面噴涂銀層，然后經(jīng)低溫燒成銀質(zhì)薄膜作極板而制成。它的外形以片式居多，也有管形、圓形等形狀。高壓陶瓷電容一般都是圓形的藍色粉涂。也叫圓片電容器。
高壓陶瓷電容各類參數(shù)比較多，高壓陶瓷電容器的絕緣電阻取決于介質(zhì)材料配方、工藝過程（燒結）和測量時的溫度。所有介質(zhì)的絕緣電阻都會隨溫度的提高而下降，在低溫（-55℃）到高溫（125℃）的MIL溫度特性范圍內(nèi)可以觀察到一個非常大的下降過程。
測量高壓電容器絕緣電阻的時候需要重點考慮的是絕緣電阻與電容量的關系。電容量值與絕緣電阻成反比，即電容量越高，絕緣電阻越低。這是因為電容量與漏電流大小 是相互成正比的，可以用歐姆定律和比體積電容關系加以說明。歐姆定律表述了導體中電流（I），電壓（V）和電阻（R）之間的關系：
I = V/R
但是，電阻（R）是一個與尺寸有關的物理量，也與材料本征的電阻率有關，如下所示：
R = ρL/A
這里 L = 導體長度 A = 導體橫截面積。因此電流（I）可以表示為： I = VA/ρL
考慮到高壓陶瓷電容器中通過絕緣體的漏電流（i）也可用上述關系式表示：I = VA’/ρt ，這里 V = 測試電壓 A’ = 有效電極面積ρ= 介質(zhì)電阻率 t = 介質(zhì)層厚度
從上面關系式可以看到，對于給定的測試電壓，漏電流大小正比于電容器有效電極面積，反比于介質(zhì)層厚度（和電阻率），即：i ∝ A’/t
類似地，電容量（C）正比于有效電極面積，反比于介質(zhì)層厚度，即：C = KA’/4.452t （這里 K = 介電常數(shù) A’ = 有效電極面積 t = 介質(zhì)層厚度）
因此 C ∝ A’/t 以及 i ∝ C
漏電流（i）與絕緣電阻成反比，即：IR ∝ 1/C
基于上述關系，可以歸納出以下幾點：
1．絕緣電阻是測試電壓的函數(shù)，漏電流正比于外加電壓：i = VA’/ρt 或 IR =ρt/VA’
2. 對于任意給定的電容器，絕緣電阻很大程度上依賴于介質(zhì)材料本征的電阻率（ρ），也依賴于材料配方和測量時的溫度。
3. 電容器絕緣電阻（IR）的測量值與電容量成反比，也就是說，IR是電容量的函數(shù)，因此，工業(yè)應用中產(chǎn)品IR的最小標準是由電阻（R）和容量（C）, （R×C），所決定的，如下表所示。EIA標準要求產(chǎn)品在25℃時R×C超過1000歐姆-法拉（通常表示成1000兆歐-微法），在125℃時超過 100歐姆-法拉。
編輯：admin 最后修改時間：2018-02-26
