電容的失效模式和失效機理（一）
電容器的常見失效模式有：擊穿短路；致命失效――開路；致命失效 ――電參數(shù)變化（包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等。
失效模式的失效機理
一、引起電容器擊穿的主要失效機理
、匐娊橘|材料有疵點或缺陷，或含有導電雜質或導電粒子；②電介質的電老化與熱老化；③電介質內部的電化學反應；④銀離子遷移；⑤電介質在電容器制造過程中受到機械損傷；⑥電介質分子結構改變； ⑦在高濕度或低氣壓環(huán)境中極間飛弧； ⑧在機械應力作用下電介質瞬時短路。
二、引起電容器開路的主要失效機理
、僖部位發(fā)生“自愈“，使電極與引出線絕緣；②引出線與電極接觸表面氧化，造成低電平開路；③引出線與電極接觸不良；④電解電容器陽極引出箔腐蝕斷裂；⑤液體電解質干涸或凍結；⑥機械應力作用下電介質瞬時開路。
三、引起電容器電參數(shù)惡化的主要失效機理
、偈艹被虮砻嫖廴荆虎阢y離子遷移；③自愈效應； ④電介質電老化與熱老化；⑤工作電解液揮發(fā)和變稠；⑥電極腐蝕； ⑦濕式電解電容器中電介質腐蝕；⑧雜質與有害離子的作用；⑨引出線和電極的接觸電阻增大。
同一失效模式有多種失效機理，同一失效機理又可產生多種失效模式。失效模式與失效機理之間的關系不是一一對應的。
編輯：admin 最后修改時間：2018-01-05
