村田SMD陶瓷電容器MLCC斷裂分析及造成影響

片狀獨(dú)石陶瓷電容器受到機(jī)械、熱應(yīng)力時(shí)會(huì)發(fā)生斷裂，當(dāng)斷裂到內(nèi)部電極的活動(dòng)區(qū)域(圖1)時(shí)，會(huì)導(dǎo)致該部分內(nèi)部電極間的漏電，并可能造成絕緣電阻的降低(短路)。

絕緣電阻降低的機(jī)械故障主要為"斷裂處在高電場(chǎng)下的放電"。

例，如圖2所示，當(dāng)內(nèi)部電極間發(fā)生斷裂時(shí)，電極間的介電材料中會(huì)形成一層較薄的空氣層。
將其模型化后，當(dāng)施加電壓V時(shí)，將介電材料內(nèi)部的電場(chǎng)強(qiáng)度用E來(lái)表示，空氣層的電場(chǎng)強(qiáng)度用εＥ來(lái)表示。

因此，施加在電容器上的電壓大部分處于空氣層，當(dāng)其超過(guò)空氣的絕緣破壞電壓時(shí)，會(huì)產(chǎn)生放電現(xiàn)象，反復(fù)放電后會(huì)降低絕緣電阻。

圖1

圖2

編輯：admin  最后修改時(shí)間：2017-05-18